反射率測定儀-鏡麵反射測量中的絕對與相對是什麽

　　客戶可能有一個(ge) 平坦的反射表麵，測量此類樣品最直接的方法是鏡麵反射或外部反射。什麽(me) 是鏡麵反射? 鏡麵反射是來自表麵的鏡麵反射。一個(ge) 簡單的例子是您在浴室鏡子中看到的反射。作為(wei) 一種光譜方法，鏡麵反射用於(yu) 表征反射基板上的薄膜和測量材料的光學特性。

　　對於(yu) 沉積在類似鏡子的基板上的薄膜，入射輻射穿過薄膜，從(cong) 金屬表麵反射並再次穿過薄膜。這通常稱為(wei) 反射吸收或雙透射，光譜看起來與(yu) 透射光譜相當。如果薄膜或塗層非常薄，小於(yu) 波長，那麽(me) 對薄膜的最大靈敏度是在與(yu) p 偏振光的掠射角處。可以在任何角度測量基材上較厚的薄膜。測量對近垂直入射 (0°) 的偏振變得不那麽(me) 敏感。

　　鏡麵反射率也用於(yu) 測量獨立的非反射膜。正麵和背麵的反射會(hui) 產(chan) 生幹涉圖案，從(cong) 中可以確定薄膜的厚度。

　　鏡麵反射和絕對反射有什麽(me) 區別?大多數光譜測量都是相對於(yu) 某物進行的。考慮最簡單情況的傳(chuan) 輸測量。在典型的 FTIR 上，將收集開束光譜作為(wei) 透射測量的背景。大多數 UV-Vis-NIR 光譜儀(yi) 是雙光束儀(yi) 器，其中後光束用作典型透射測量中的參考，因此樣品光束是相對於(yu) 參考光束測量的。

　　大多數反射測量使用鏡子或未塗層的基板作為(wei) 參考。這被認為(wei) 是一種相對測量，因為(wei) 樣品的光譜是相對於(yu) 鏡子或未鍍膜的基材測量的。

　　然而，絕對反射法用於(yu) 精確測量材料的反射率，以得出介電函數和光學常數(n 和 k)。有幾種絕對反射的方法，所有這些方法都使用偏振器或接近垂直入射。

　　測量是相對於(yu) 校準的參考，然後是絕對反射率的數學提取。這是實驗上最簡單的方法，但校準的參考可能很昂貴，需要小心處理才能保持校準。

　　VW 和 VN 方法。這些方法使用精確的鏡子以相同的角度收集樣品光譜的背景或參考光譜。然後旋轉樣品台，安裝樣品進行測量。