光澤度儀度數之間的區別

發布日期：2022-04-12 瀏覽次數：893

很多小夥(huo) 伴們(men) 知道光澤度儀(yi) 是用來測量物體(ti) 表麵光澤程度的儀(yi) 器，但是不知道光澤度度數與(yu) 度數之間的區別，在購買(mai) 光澤度儀(yi) 的時候往往會(hui) 遇到光澤度儀(yi) 與(yu) 自身產(chan) 品不符的情況，接下來咱們(men) 來聊聊光澤度儀(yi) 度數之間的區別

一、光澤度儀(yi) 的分類

光澤度儀(yi) 按角度分類大多可以分為(wei) ：20度，45度、60度、75度、85度等，85度為(wei) 低光澤儀(yi) ，20度為(wei) 高光澤儀(yi) ，依此類推，使用最多的是60度中光澤儀(yi)

二、光澤度儀(yi) 20度和60度的區別

用光澤度儀(yi) 測出來的一般分三個(ge) 角度即20度、60度和80度。數值越低，光澤就越低。

①對於(yu) 通用材料，一般選擇60度通用光澤度儀(yi) ，如3nh光澤度儀(yi) YG60

②對於(yu) 高光澤的材料，一般選20度光澤度儀(yi)

③對於(yu) 低光澤的材料，一般選85度光澤度儀(yi)

④不確定光澤的，一般選用三角度光澤度儀(yi) ，如YG268三角度光澤度儀(yi)

⑤假如光澤＞70GU，屬於(yu) 高光澤，就抉擇20°測量

⑥假如光澤＜10GU，屬於(yu) 低光澤，就抉擇85°測量

三、光澤度儀(yi) 45度與(yu) 60度區別

按照光澤度儀(yi) 測量角度來劃分，我們(men) 可以將光澤度儀(yi) 分為(wei) 單角度、三角度。45度與(yu) 60度光澤度儀(yi) 就是單角度光澤度儀(yi) ，分別表示的就是測量角度為(wei) 45度的光澤度儀(yi) 和測量角度為(wei) 60度的光澤度儀(yi)

45 度光澤度儀(yi) ：特殊處理表麵，如陶瓷，紡織品和陽極氧化鋁
60 度光澤度儀(yi) ：所有表麵都廣泛適用的光澤測量角度

四、如何選擇光澤度測量角度

使用光澤度儀(yi) 的時候往往不知道如何選擇光澤度測量角度。所有光源都會(hui) 從(cong) 表麵上反射，反射光的量的等級被稱作表麵光澤度值。光澤度值以光澤度單位(GU)計量，對應近似100GU的標準值。

所有的角度都是從(cong) 垂直角度計算。每個(ge) 範圍用各自的角度去測量。要想知道在哪個(ge) 角度測量合適，從(cong) 60°開始比較好。如果結果是10-70GU之間，則該塗層可以稱為(wei) 半光澤，用這個(ge) 角度測量。如果結果高於(yu) 70GU，則該產(chan) 品是高光澤，用20°來測量

五、光澤度儀(yi) 投射角度說明

①20度高光澤：20度的銳角可以增加高光澤材料表麵光澤度數據的分辨率，使用60度標準角的光澤度儀(yi) 測試得到的光澤度如果大於(yu) 70GU，這樣的材料表麵光澤可以稱為(wei) 高光澤。光澤度儀(yi) 角度選擇20度比較適合金屬，高光澤的紙張等材料

②45度：市麵上的45度光澤度儀(yi) 較少，主要用於(yu) 測試陶瓷和薄膜等材料表麵的光澤度

③60度通用型：60度是最為(wei) 通用的光澤度儀(yi) 角度選擇，任何光澤度的材料都可以使用60度的標準測量角度進行測量，並且高光澤，中光澤，低光澤也是依據60度光澤度儀(yi) 的測試數據劃分的

為(wei) 什麽(me) 還是有其他角度的光澤度儀(yi) 呢，這是因為(wei) 測試低光澤和高光澤時使用85度或者20度光澤度儀(yi) 可以獲得分辨率更高的測量結果，但目前標準的60度角光澤度儀(yi) 的行業(ye) 水平有很大提高，可以適用於(yu) 所有材料的測試

④75度：75度光澤度儀(yi) 也是較為(wei) 少見的一種測試角度，主要用於(yu) 紙張以及乙烯基生產(chan) 的材料表麵光澤度測試。

⑤85度低光澤：85度光澤度儀(yi) 適合測量一些有紋理或者表麵不平坦的材料表麵的光澤度，使用60度標準角的光澤度儀(yi) 測試得到小於(yu) 10GU的光澤度通常稱為(wei) 低光澤。常用於(yu) 測試一些低光澤，或者啞光表麵，以及一些高漫反射的材料表麵光澤度

事實上45度和75度隻是適用於(yu) 某些特殊行業(ye) ，應用不是很廣泛，光澤度儀(yi) 角度選擇目前隻需要考慮20度，60度，85度三種測試角度，而這三種中的60度又是最通用並且屬於(yu) 標準角度的光澤度儀(yi) ，因此一台高精度的60度光澤度儀(yi) 就可以滿足所有的需求

五、光澤度儀(yi) 測量角度的選擇

①中光澤（通用型角度）：60°

60°是所有表麵都適用的測量角度。它還被用作為(wei) 低光澤85°，高光澤20°測量表麵時的參考角度

②低光澤：85°