分光測色儀的誤差來源是什麽，分光測色儀測量數據問題

分光測色儀(yi) 的係統誤差最主要的是光度標尺誤差和波長誤差。光度標尺誤差分為(wei) 參比白誤差和參比黑誤差。通常認為(wei) 白色、黑色校正板數據是準確的情況下，參比白誤差主要是白色校正板老化造成，參比黑誤差主要是黑色校正板老化和係統雜散光造成。參比白誤差主要影響光度標尺的大刻度部分，而對小刻度部分的誤差較小；參比黑誤差主要影響光度標尺的小刻度部分，而對大刻度部分的誤差較小。然而探測器及電路係統的線性也會(hui) 影響光度標尺誤差，即使光度標尺100%和0準確，90%、……、10%也會(hui) 有誤差，這種誤差一般較小，也難以校正。隨著陣列探測器的廣泛使用，分光測色儀(yi) 不再是具有移動部件的單色儀(yi) ，因此波長誤差的產(chan) 生往往是波長定標的誤差。波長誤差主要影響光譜反射率因數曲線中變化率（一階導數）最大的部分，而在曲線幾乎平坦處的影響最小。由於(yu) 係統誤差對於(yu) 不同光譜反射率因數的影響不同，故其對顏色測量準確度的實際影響取決(jue) 於(yu) 被測材料的具體(ti) 光譜光度特性。

曾有廠家對儀(yi) 器的檢驗規程著重於(yu) 它的物理量的誤差（如波長誤差，光度標尺誤差等）和三刺激值誤差（△X、△Y、△Z），而這種誤差很難與(yu) 色差直接建立關(guan) 係，更難與(yu) 人眼視覺聯係起來。有研究者提出用色差數據表示顏色測量儀(yi) 器的精密度和準確度。用同一台顏色測量儀(yi) 器，同一個(ge) 樣品，做多次測量，得到一組數據，將各次數據的平均值與(yu) 各次數據求色差，再求這些色差的平均值，稱為(wei) 均離色差，表示儀(yi) 器的精密度或重複性。

L*i，a*i，b*i分別為(wei) N次測量中第i次測量的CIELAB坐標（圖片）為(wei) 各自的平均值。現代顏色測量儀(yi) 器精密度色差AE*ab可以小於(yu) 0.1，而一般人眼可看到顏色變化時要近似1個(ge) 色差單位，所以這個(ge) 精密度是較為(wei) 滿意的。準確度要與(yu) 標準值相比較才能得到。而通常分光測色儀(yi) 、分光光度計和光譜輻射計準確度要比其精密度差，甚至多達一個(ge) 數量級。用同一台儀(yi) 器，測量同一個(ge) 樣品，做多次測量，得到一組數據，每次數據與(yu) 標準值相比計算色差，再求各次色差的平均值，即與(yu) 標準值的平均色差，表示儀(yi) 器的準確度。