什麽原因影響塗層測厚儀精度

　　在使用塗層厚度計時，有時測量結果會(hui) 感到偏差，或測量校正樣品的厚度不同，什麽(me) 原因影響塗層測厚儀(yi) 精度?

　　基體(ti) 金屬磁性：磁塗層厚度計受基體(ti) 金屬磁性變化(低碳鋼磁性變化可忽略不計)的影響。同時，儀(yi) 器應校準與(yu) 試件基體(ti) 金屬性質相同的標準片，或塗層試件應校準，以避免熱處理和冷處理因素的影響。

　　基金屬的電性：渦流測厚儀(yi) 受基金屬電導率的影響，基金屬的電導率與(yu) 其材料成分和熱處理方法有關(guan) 。解決(jue) 方案是使用與(yu) 測試基金性質相同的標準板來校準儀(yi) 器(這與(yu) 第一點相同，並解釋如何校準塗層厚度計)。

　　基金屬厚度：每台儀(yi) 器都有一個(ge) 基金屬的臨(lin) 界厚度。隻要大於(yu) 此厚度，測量就不會(hui) 受到基金屬厚度的影響。此外，由於(yu) 每台儀(yi) 器在測量時都有塗層的最小厚度值，因此除此值以外的塗層厚度無法測量。

　　邊緣測量效果：塗層測厚儀(yi) 對試件表麵形狀的陡變敏感。因此，不能靠近試件的邊緣或內(nei) 角進行測量，否則測量值會(hui) 有較大的偏差。

　　試件曲率：試件曲率對測量有很大影響。隨著曲率半徑的降低，這種影響顯著增加，即平麵上的測量比平麵上的測量更準確(很容易理解為(wei) 最大曲麵上的平麵想象)。因此，在彎曲度較大的樣品表麵測量塗層厚度是不準確的。同樣，當樣品不同程度地變形時，也會(hui) 導致測量偏差。

　　試件表麵粗糙度：基體(ti) 金屬和覆蓋層表麵粗糙度對測量有影響。粗糙度增加，測量效果增加。粗糙的表麵會(hui) 導致係統誤差和意外誤差。每次測量時，應增加不同位置的測量次數，以克服這一意外錯誤。如果基金屬粗糙，則必須將儀(yi) 器的零點校對到基金屬試件上的幾個(ge) 位置，而不是塗層的粗糙度相似;或者在使用對基金屬無腐蝕性溶液去除覆蓋層後，重新校準儀(yi) 器的零點。簡單理解：如果試件的粗糙度較高，則相當於(yu) 峰穀。測量峰值上的塗層厚度將小於(yu) 實際塗層厚度，峰值穀上的塗層厚度將大於(yu) 實際塗層厚度。此外，對於(yu) 塗層的粗糙度，由於(yu) 儀(yi) 器測量頭需要與(yu) 塗層測量緊密配合，塗層的峰穀測量會(hui) 影響電導體(ti) 上的磁阻值和渦流值反饋值。

　　環境磁場：測量環境周圍存在各種電氣設備產(chan) 生的強磁場，嚴(yan) 重幹擾磁性法測厚儀(yi) 。當周圍存在不同程度的高頻電磁波時，渦流法測厚儀(yi) 也會(hui) 受到影響。

　　確保儀(yi) 器測頭與(yu) 被測件表麵直接接觸，去除附著在試件表麵的物質。

　　測量頭壓力：測量頭放置在試件上的壓力尺寸會(hui) 影響測量讀數。因此，應保持恒壓。在實際測量過程中，我們(men) 需要用一些力將測量頭壓在試件表麵，而不是太大或太小。

　　測量頭的方向：在測量過程中，應保持測量頭垂直於(yu) 樣品表麵，以獲得最準確的值。如果測量頭偏離，則得到更大的值。