常規的塗層測厚儀選型方法

　　在相關(guan) 國家和國際標準中，保護材料表麵和裝飾形成的覆蓋層，如塗層、塗層、塗層、貼層、化學成膜等。

　　複合層厚度測量已成為(wei) 加工業(ye) 和表麵工程質量測試的重要組成部分，是產(chan) 品達到優(you) 良質量標準的必要手段。為(wei) 了使產(chan) 品國際化，中國的出口商品和外國項目對複合層的厚度有明確的要求。

　　複合層厚度的測量方法主要包括：楔形切割法、光截麵法、電解法、厚度差測量法、稱重法、x射線熒光法、β射線反向散射法、電容法、磁性測量法、渦流測量法等。前五種方法是檢測，測量手段繁瑣，速度慢，更適合抽樣檢測。

　　X射線和β射線法是無接觸和無損的測量方法，但設備複雜且昂貴，測量範圍較小。由於(yu) 有放射源，用戶必須遵守射線保護規範。X射線法可以測量極薄塗層、雙塗層和合金塗層。β射線法適用於(yu) 基材原子序列號大於(yu) 3的塗層測量。電容法僅(jin) 用於(yu) 測量薄導體(ti) 絕緣層的厚度。

　　隨著技術的不斷進步，特別是近年來微機技術的引入，磁性法和渦流法的測厚儀(yi) 向微型、智能、多功能、高精度、實用的方向邁進了一步。測量分辨率達到0.1微米，精度可達1%，大大提高。它是工業(ye) 和科學研究中應用最廣泛的測厚儀(yi) 器，適用範圍廣，測量範圍廣，操作簡單，價(jia) 格低廉。

　　采用無損法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量檢測工作經濟地進行。